DLS mudelid kasutavad dünaamilist valgushajuvuse meetodit nanoosakeste suurusjaotuse määramiseks vahemikus 0,3 nm kuni 15 μm. Lisaks on võimalik mõõta ka osakeste zetapotentsiaali.
DIF mudelid kasutavad laserkiirguse difraktsiooni osakeste määramiseks suurusvahemikus 0,01 μm kuni 3,5 mm. Lisavarustusse kuulub siin ka osakeste kuju analüüs.
DIA mudelid kasutavad kuvaanalüüsi osakeste suuruse ja kuju mõõtmisteks vahemikus 0,5 μm kuni 16 mm.
Litesizer Autosampler proovivahetaja kiirendab ja lihtsustab oluliselt suuremate proovihulkade analüüsi. Kalliope tarkvara tagab kasutajasõbralikkuse kuvades kõik analüüsi parameetrid ja tulemused ühelvaatel. Kogu info on saadaval korraga ja koheselt. Küsi võimalustest seadet katsetada oma laboris või ka Anton Paari tehnikakeskuses.
